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半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪
型号/规格:ST-HeatX 品牌/商标:天士立 实验对象:DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT…… 输出范围:-10V ~ 20V 分辨率:0.01V
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陕西天士立ST-HeatX_平替进口_热特性_瞬态稳态热阻Kcurve/Rth/Zth
型号/规格:ST-HeatX 品牌/商标:天士立 量程:30A / 10V 采样频率:1MHZ 分辨率:1mA
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热阻抗测试仪_陕西天士立科技ST-HeatX优替T3Ster_Phase11_热阻抗测试仪
型号/规格:ST-HeatX 品牌/商标:天士立 温度范围:-35℃~180℃ 温度误差:0.1℃ 显示分辨率:0.01℃